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5，2.圖根控制測量5 2。1。圖根平面控制和高程控制測量可同時進(jìn)行。也可分別施測。圖根點相對于鄰近等級控制點的點位中誤差不應(yīng)大于圖上0、1mm，高程中誤差不應(yīng)大于基本等高距的1.10、5。2,2 對于小測區(qū),圖根控制可作為首級控制,5 2.3。圖根點點位標(biāo)志宜采用木，鐵 樁，當(dāng)圖根點作為首級控制或等級點不足時 每幅圖應(yīng)埋設(shè)一個標(biāo)石,5 2,4 般地區(qū)圖根點的數(shù)量不宜少于表5.2，4的規(guī)定、5。2 5,圖根平面控制測量可采用RTK圖根測量，圖根導(dǎo)線 極坐標(biāo)法和邊角交會法等，5，2。6.RTK圖根控制測量的主要技術(shù)要求應(yīng)符合下列規(guī)定.1，RTK圖根控制測量可采用單基站RTK測量模式 也可采用網(wǎng)絡(luò)RTK測量模式,作業(yè)時,有效衛(wèi)星數(shù)不宜少于6個 多星座系統(tǒng)有效衛(wèi)星數(shù)不宜少于7個,PDOP值應(yīng)小于6，并應(yīng)采用固定解成果、2，RTK圖根控制點應(yīng)進(jìn)行兩次獨立測量.坐標(biāo)較差不應(yīng)大于圖上0 1mm,符合要求后應(yīng)取兩次獨立測量的平均值作為最終成果.3.RTK圖根控制測量的主要技術(shù)要求應(yīng)符合表5。2 6的規(guī)定、4、RTK圖根控制測量的其他技術(shù)要求應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)第3。2。23條，第3.2，30條的規(guī)定、5。2 7。圖根導(dǎo)線測量應(yīng)符合下列規(guī)定、1 圖根導(dǎo)線測量宜采用6、級儀器一測凹測定水平角、主要技術(shù)要求不應(yīng)超過表5.2 7的限差規(guī)定.2,在等級點下加密圖根控制 不宜超過2次附合，3、圖根導(dǎo)線的邊長可采用全站儀單向施測。5 2.8,對于難以布設(shè)附合導(dǎo)線的困難地區(qū)?？刹荚O(shè)成支導(dǎo)線、支導(dǎo)線的水平角可用6、級儀器觀測左。右角各一測回。圓周角閉合差不應(yīng)超過40，邊長應(yīng)往返測定,邊長往返較差的相對誤差不應(yīng)大于1 3000.圖根支導(dǎo)線平均邊長及邊數(shù)不應(yīng)超過表5.2 8的規(guī)定，5。2、9.極坐標(biāo)法圖根點測量應(yīng)符合下列規(guī)定，1 宜采用6,級儀器、應(yīng)一測回測定角度、距離 2、極坐標(biāo)法圖根點測量限差 不應(yīng)超過表5。2,9 1的規(guī)定.3。測量時.可與圖根導(dǎo)線或二級導(dǎo)線一并測量,也可在等級控制點上獨立測量.獨立測量的后視點，應(yīng)為等級控制點.4。在等級控制點上獨立測量時，可直接測定圖根點的坐標(biāo)和高程.并應(yīng)將上 下兩半測回的觀測值取平均值作為最終觀測成果,點位誤差應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)第5.2 1條的規(guī)定、5 極坐標(biāo)法圖根點測量的最大邊長,應(yīng)符合表5,2.9.2的規(guī)定，6。使用前，應(yīng)對觀測成果進(jìn)行校核,5 2,10,圖根補點可采用RTK圖根測量 也可采用有校核條件的測邊交會。測角交會.邊角交會或內(nèi)外分點法 當(dāng)采用測邊交會和測角交會時.交會角應(yīng)在30,150，之間、觀測限差應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)表5、2，9.1的規(guī)定,分組計算所得的坐標(biāo)較差不應(yīng)大于圖上0.2mm、5 2。11 圖根高程控制可采用圖根水準(zhǔn)，電磁波測距三角高程和RTK圖根高程測量方法 起算點的精度不應(yīng)低于四等水準(zhǔn)高程點.5 2,12 圖根水準(zhǔn)測量的主要技術(shù)要求應(yīng)符合表5.2、12的規(guī)定.5.2，13。圖根電磁波測距三角高程測量的主要技術(shù)要求應(yīng)符合表5 2，13的規(guī)定,儀器高和覘標(biāo)高應(yīng)精確量至1mm.5。2、14 RTK圖根高程控制測量作業(yè)方法 應(yīng)獨立進(jìn)行2次高程測量.2次獨立測量的較差不應(yīng)大于基本等高距的1，10 符合要求后應(yīng)取2次獨立測量的平均值作為最終成果,其他技術(shù)要求應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)第5,2 6條的規(guī)定.5，2,15,圖根控制測量內(nèi)業(yè)計算和成果的取位要求應(yīng)符合表5 2，15的有關(guān)規(guī)定,5.2.16,RTK圖根控制測量成果的檢查應(yīng)符合下列規(guī)定.1。檢核點應(yīng)均勻分布于測區(qū)的中部及周邊 2，檢核方法可采用邊長檢核 角度檢核或?qū)Ь€聯(lián)測檢核等。RTK圖根控制點檢核限差應(yīng)符合表5 2，16的規(guī)定 3.外業(yè)檢核也可采用已知點比較法 復(fù)測比較法等 并應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)公式.3.2，31 統(tǒng)計檢核點的精度,檢核點的點位中誤差M，不應(yīng)大于圖上0。1mm 高程中誤差不應(yīng)大于基本等高距的1 10，